Empedans test cihazları

 

EMPEDANS TEST CİHAZLARI

EMPEDANS TEST METODUYLA ELEKTRONİK KARTLARDA ARIZA BELİRLEME :

    Elektronik malzemelerin devre dışında ve devre içerisinde, empedans karakteristik eğrileri test edilerek sağlam olup olmadıkları anlaşılabilmektedir.

    Bu test metodu ile arıza belirlemede elektronik kartın devre şemasına ihtiyaç yoktur. Ayrıca elektronik kartın kendi enerjisini de vermeye gerek yoktur.

    Enerjisiz test yapıldığı için, onarımcıdan kaynaklanan test hataları ile başka malzemelerin bozulmaması da sağlanmaktadır.

    Elektronik malzemeler ve devreler gün geçtikçe gelişimini hızlı bir şekilde devam ettirmektedir. Bu nedenle arıza belirlemede gelişmiş test teknikleri ihtiyacı da artmaktadır.

    Elektronik kartların tamirinde dünyada en çok kullanılan test metodu empedans test metodudur.

    Bu metot ile elektronik kartlardaki tüm malzemelerin %95 seviyesinde testi yapılarak arızalı malzeme belirlenebilmektedir. %5 ’lik dilimde; programlı malzemeler, RAM’ ler, kısa devre arızaları, BGA ’ler ve soğuk lehim gibi diğer arızalar sıralanır. 

    Yeterli gerilim ve akım seviyelerinde test kademelerine sahip olan empedans test cihazları ile iki elektronik arızalı kart karşılaştırılarak dakikalar seviyesinde arızalı elektronik malzeme bulunabilmektedir.

    TEMEL ELEKTRONİK MALZEME EMPEDANS EĞRİLERİ

    Ohm kanunundan hatırlayacağınız gibi Voltaj / Akım oranı, direnci verir. Kondansatör ve bobin gibi direnç değeri frekansa göre değişen, kapasitans ve indüktans değerlerine sahip elektronik malzemeler de direnç kavramına dahil edilirse, genel ismi ‘empedans’ olur. 

    Empedans eğrileri ile arıza belirlemede yaklaşım şu şekildedir; her elektronik malzemenin empedans karakteristik eğrisi vardır ve bu empedans karakteristiği bozulmuş ise malzeme bozulmuştur. Ülkemizde üretilen EFLVITester-TFT empedans test cihazı yukarıdaki resimde verilmiştir.

    

   Direnç VI Eğrisi

    Diyot VI Eğrisi

Zener Diyot VI Eğrisi

    Kondansatör VI Eğrisi

    Bazı Arızalı Elektronik Malzeme VI Eğrileri

ENTEGRELERİN EMPEDANS TEST EĞRİLERİ İLE TEST EDİLMESİ :

    Digital ve analog entegrelerin (IC) tüm bacaklarında besleme ve GND (Ground) tarafına doğru koruma (sigorta) maksatlı konulmuş zener diyotlar bulunur. Bu koruma zener yapılarının empedans eğrilerinin doğru şekillerde görülmediği pinler zarar görmüş ve dolayısı ile IC arızalanmıştır.

    Analog entegrelerdeki her pine konan sigorta yarı iletken empedans eğrileri farklıdır. Bu entegrelerin test edilmesini sağlayan temel unsur, aynı işi yapan pinler besleme veya toprağa göre aynı empedans eğrisini verirler. Örneğin devre dışında ULN2003 analog IC ele alalım. 7 adet çıkış pinleri GND (Ground) referans alınarak ölçüldüğünde, hepsi ayı eğrileri vermelidir. ULN2003 entegresi bacak bağlantıları şekilde görülmektedir. Çıkış bacaklarındaki eğrilerden biri diğerlerinden çok az dahi farklı ise entegre arızalıdır. Aynı işlem giriş bacaklarına da uygulanır. 

    Dijital entegrelerin testlerinde de aynı görevi yapan aynı isimlere sahip pinler GND referansına göre kendi aralarında karşılaştırılarak test edilirler. Hepsi aynı eğrileri vermek zorundadır. Devre dışında herhangi bir entegrenin aynı görevi yapan bacaklarında aynı şekilde diyot empedans karakteristik eğrileri görülemiyorsa malzeme arızalıdır.

İKİ ELEKTRONİK KARTI KARŞILAŞTIRARAK ARIZA BELİRLEME :

    İki adet arızalı elektronik kart empedans eğrileri test metodu ile karşılaştırılarak, arızalı elektronik malzeme veya malzemeler dakikalar seviyesinde belirlenebilmektedir. Entegrelerin testlerinde test referans noktası olarak GND (Ground) alınmalıdır. Birden fazla elektronik kartta GND (ground) var ise, karşılaştırma yapılan malzemelerin GND’leri alınmalıdır. Tüm elektronik malzeme bacaklarına her iki kartta sırayla dokunularak fark aranır.

    Diyot, transistör, mosfet gibi iki veya üç bacaklı malzemelerin bacaklarına doğrudan test proplarıyla önce birine sonra diğerine dokunularak karşılaştırmalı test edilir.

    Elektronik arızaların yaklaşık %60’ı yüksek akımı anahtarlayan, sigorta görevi gören, kontrol eden veya dönüştüren; transistör, mosfet veya regülatör elemanlarında görülmektedir. Bu devre elemanların öncelikli test edilmesi, arıza belirlemeyi hızlandıracaktır. Elektronik kartta hangi şikayet var ise, o işi yapan bloktaki elektronik malzemelerin öncelikli karşılaştırılması işlemi hızlandıracaktır.

    Sağlam ve arızalı elektronik kartlar karşılaştırılırken aşağıdaki maddelere dikkat edilmelidir :

    Elektronik karlarda kendi enerjisi olmamalıdır, kondansatörler deşarj edilmiş olmalıdır.

    Elektronik kartlar birebir aynı olmalıdır. 

    Elektronik kart üzerindeki; dıp switch’ler, potansiyometre ve jumper gibi malzemeler aynı konumda olmalıdır.

    Besleme ve toprak arası elektronik kartta kısa devre edilerek entegrelerin test edilmelidir. Aynı anda Vcc ve GND tarafındaki entegre içerisindeki zener yapıları görerek karşılaştırma yapılacağından arızalı malzemeyi bulmayı kolaylaştıracak ve hızlandıracaktır.

Empedans Ölçümündeki Değerler :

    Ölçüm ile elde edilen empedans değerlerinin içerisinde ;

• Koruma Topraklaması
• İşletme Topraklaması 
• Trafo Sekonder Sergi Dirençleri
• Faz İletkeni Direnci
• Koruma Topraklaması İletkeni Direnci yer almaktadır.